М.: Техносфера, 2004. — 384 с. — ISBN: 5-94836-018-0. Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели...