Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Микроскопия

4th Edition. — Springer Science+Business Media LLC, 2018. — 554 p. — ISBN: 149396674X. This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis...
  • №1
  • 49,60 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Springer, 2018. — 421 p. — ISBN: 3319984810. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to...
  • №2
  • 70,03 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.