Москва: Техносфера, 2007. — 376 с. — ISBN 978-5-94836-121-5 За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических...
Москва: Мир, 1966. — 472 с. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга известного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы...
Bentham Science Publishers, 2017. — 751 p. Fluorescence Microscopy is a precise and widely employed technique in many research and clinical areas nowadays. Fluorescence Microscopy In Life Sciences introduces readers to both the fundamentals and the applications of fluorescence microscopy in the biomedical field as well as biological research. Readers will learn about physical...
3 edition.- New York: Oxford University Press, 2021.- lxxi, 452 p. The scanning tunnelling microscope (STM) was invented by Binnig and Rohrer and received a Nobel Prize of Physics in 1986. Together with the atomic force microscope (AFM), it provides non-destructive atomic and subatomic resolution on surfaces. Especially, in recent years, internal details of atomic and molecular...
Киев: Наукова думка, 1974. — 268 с. Элементы электронной оптики Физические основы электроннозондовой техники Электронные микроскопы с неподвижным зондом Устройства со сканирующим электронным зондом Применения электроннозондовых устройств
Wiley, 2019. — 848 p. — ISBN: 978-1-118-69674-3. Introduces readers to the enlightening world of the modern light microscope There have been rapid advances in science and technology over the last decade, and the light microscope, together with the information that it gives about the image, has changed too. Yet the fundamental principles of setting up and using a microscope...
М.: АН СССР, 1960. — 272 c. В развитии электронной микроскопии можно различать три периода. Со времени появления первого электронного микроскопа просвечивающего типа в 1932 г. и до 1940 г продолжался первый период, когда основное внимание было сосредоточено на улучшении конструкции приборов и разработке простейших методик препарирования.
М.: Энергоиздат, 1981. — 184 с. Важнейшим инструментом для проникновения в невидимый мир молекул, атомов, атомных ядер и элементарных частиц в течение последних трех веков служит метод рассеяния электромагнитных и корпускулярных волн. Для изучения рассеяния этих волн ученые используют огромный арсенал приборов - от микроскопа до современных трековых камер. Описаны метод...
М.: Гостехиздат, 1949. — 274 с. Книга излагает принципы работы и основные конструкции электронных микроскопов. Она содержит также подробное изложение методики использования электронных микроскопов в различных областях науки и техники. Книга предназначена для инженерно-технических работников, работающих в области электронной микроскопии, а также для работников...
М.: Наука, 1976. — 168 c. В сборнике показаны уровень и результаты исследований в области создания и совершенствования методов и средств тепловой микроскопии и изучения строения и свойств металлов и сплавов при механическом нагружении и тепловом воздействии. Приведены сведения о новой аппаратуре для низко- и высокотемпературного деформирования при статическом и циклическом...
М.: Техносфера, 2007. — 375 с. — ISBN: 978-5-94836-121-5 За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических...
Долгопрудный: Интеллект, 2013. — 326 с.: 48 цв. ил. — ISBN: 978-5-91559-102-7. Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии - проф. Ахмедом Зевайлем из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном Томасом из Оксфордского Университета. Учебное пособие посвящено последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют...
Пер. с англ. — Под ред. В. Н. Верцнера. — Л.: Машиностроение, Ленинградское отделение, 1980. — 375 с.: ил. В книге изложены методики приготовления образцов для просвечивающего электронного микроскопа, а также описаны оптические дифракторы и методы анализа электронных изображений; приведены способы улучшения изображений, получаемых в электронном микроскопе, фотографическими...
Москва: Наука, 1981. — 136 с. — (Серия Наука и технический прогресс). За более чем трехвековую историю разрешающая способность микроскопов поднялась свыше чем на четыре порядка - теперь на экране микроскопа можно увидеть даже отдельные атомы. Ряд научных направлений своим появлением обязан микроскопии. Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии, типами и принципами...
Москва: Мир, 575 страниц; 1968 г.
Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено...
Пер. с 3-го нем. изд. 1955 г. — М.: Медгиз, 1959. — 426 с. Основы микроскопической оптики Основные сведения об объективе и окуляре Микроскоп может обманывать. Исследование уве-личительной оптики Источники света для микроскопии Микроскопия в проходящем свете по методу светлого поля Микроскопия, в проходящем свете по методу темного поля и ультрамикроскопия Микроскопия в падающем...
Пер. с англ. — Под ред. В.Н. Рожанского. — М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1986. — 320 с. Изложены теоретические и экспериментальные аспекты электронной микроскопии высокого разрешения. Рассмотрены физические основы формирования электронно-микроскопического изображения как периодических (кристаллические структуры), так и непериодических (отдельные...
Ленинград: Машиностроение, 1969. — 512 с. В книге описаны геометрическая теория микроскопа и волновая теория образования в нем изображения. Приведены принципиальные оптические схемы различных типов микроскопов, рекомендации по выбору объектива и окуляра для визуального наблюдения и микрофотографирования; рассмотрены вопросы освещенности изображения и потери света в микроскопах;...
Москва: Государственной издательство физико-математической литературы, 1960. — 180 с. Книга посвящена использованию двух типов микроскопов - фазово-контрастному и интерференционному микроскопам.
Москва; Ижевск: Регулярная и хаотическая динамика, 2010. — 196 с. — ISBN 978-5-93972-811-9. Магнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) - быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-e годы и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичногo электрона, находящегося внутри непрозрачногo твердогo вещества. Дальнейшее развитие методов...
М.: Наука, 1980. — 220 с. Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации,...
Монография. — Пер. с англ. C.А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе...
К.: Техніка, 1976. — 168 с. Скан разворотами Изложены основные представления электронной геометрической оптики, рассмотрен принцип действия электростатических и электромагнитных электронных линз и основные виды их аберраций, а также конструкции линз и их взаимодействие в оптической системе электронных микроскопов просвечивающего типа. Особое внимание уделено практическим вопросам...
М.: Мир, 1972. — 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава,...
М.: Мир, 1984. — 349 с. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических...
М.: Мир, 1984. — 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение,...
М.: Техносфера, 2005. — 144 с. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ),...
Комментарии