Добавлен пользователем СергейБал, дата добавления неизвестна
Описание отредактировано
Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.
Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
М.: Мир, 1979. — 568 с. Данная книга в настоящее время - единственное в мировой литературе издание, в котором излагаются основные теоретические закономерности современной физической химии дисперсных систем и поверхностных явлений. Широта охвата проблемы, новизна материала и мастерское изложение вопросов позволяют использовать книгу и как монографию для научных работников и...
Москва: Техносфера, 2009. - 528 с., ISBN: 978-5-94836-220-5 Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и...
М.: Мир, 1987. — 600 с., ил. Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады представляет собой детальное и конкретное руководства по применению оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для анализа поверхности. Она является первой учебно-справочной монографией, в которой обобщены результаты огромного числа публикаций по этим вопросам. В...
М: Мир, 1978. — 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более...
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
М.: Мир, 1972. — 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава,...