Лабораторные работы по теме Сканирующая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

Автор не указан. СПб гос. ун-т, Физический факультет, Кафедра ЯФМИ. – 40 с.
Теоретические основы сканирующей электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа
Рекомендации по получению изображения в СЭМ Лабораторные работы:
Настройка и фокусировка СЭМ. Получение изображения в режиме регистрации вторичных электронов. Определение пространственного разрешения СЭМ. Определение элементного состава образца методом рентгеновского микроанализа Исследование диэлектрического материала методами сканирующей электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа Определение количественного элементного состава образца методом рентгеновского микроанализа