Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Данилов В.С., Раков Ю.Н. Анализ работы и применение активных полупроводниковых элементов

  • Файл формата pdf
  • размером 42,77 МБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Данилов В.С., Раков Ю.Н. Анализ работы и применение активных полупроводниковых элементов
Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2014.— 418 c.
В работе представлены фундаментальные понятия и уравнения физики твердого тела; дан анализ работы биполярного транзистора в режимах большого и малого сигналов. Рассмотрены процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на GaAs, применяемых в СВЧ-диапазоне; раскрыта электрофизика селективно легированных гетероструктурных транзисторов. Приведены новые отечественные и зарубежные разработки, проведено их сравнение по основным характеристикам. Пособие адресовано прежде всего магистрантам и аспирантам, уже знакомым с твердотельными устройствами.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация