Практикум. — Нижний Новгород: Нижегородский госуниверситет, 2014. — 17 с. В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизического...
Москва : НИЯУ МИФИ, 2011. — 64 c.
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и...
Автор не указан. — Методические указания к лабораторной работе. — Москва: НИЯУ МИФИ, 2022. — 74 с. Цель работы и введение. Теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии. Основы метода Атомно-силовой микроскопии. Описание лабораторной установки. Порядок проведения работы и оформления отчета. Вопросы для подготовки. Рекомендуемая литература. Список литературы.
Описание лабораторной работы. — Н.Новгород: Нижегородский государственный университет, 2003. — 23 с. В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии. Данное...
Комментарии