М.: издательство МФТИ, 2003.- 40 с. Данная лабораторная работа направлена на ознакомление студентов с физическими принципами функционирования растрового электронного микроскопа (РЭМ) и основными методиками измерения. Экспериментальная часть работы заключается в изучении растрового электронного микроскопа Jeol JSM-840, в том числе: − получение изображения образца в различных...
М.: МИФИ, 2008. — 56 с. Распознано. Представлены теоретические основы растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа в рамках лекционных курсов «Физические методы исследования», «Специальные вопросы материаловедения» и «Экспериментальные методы физики твердого тела». Даны методические указания по выполнению практических заданий по изучению структуры и...
Учебное пособие. — М.: МИФИ, 2007. — 48 с. Распознано. В практикуме представлены теоретические основы просвечивающей электронной микроскопии в рамках лекционного курса «Электронная микроскопия» и методические указания при выполнении практических заданий по изучению структуры твердых тел. Пособие рекомендуется студентам старших курсов, обучающихся по специальности «Физика...
Лабораторный практикум. М.: МИФИ, 2008. 48 с. Распознано В пособии приведено описание устройства, программного обеспечения и порядка работы на сканирующем мультимикроскопе СММ-2000 в режиме туннельной микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. На конкретном примере рассмотрены возможности...
Автор неизвестен. — М.: МГУ, Физический факультет, кафедра физической электроники. — 26 с. Методическая разработка специального физического практикума кафедры физической электроники. В данной работе рассматриваются основы интерпретации изображений, полученных на атомно-силовом микроскопе. Практические задания посвящены получению качественного и количественного описания рельефа...
Автор не указан. СПб гос. ун-т, Физический факультет, Кафедра ЯФМИ. – 40 с. Теоретические основы сканирующей электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа Рекомендации по получению изображения в СЭМ Лабораторные работы: Настройка и фокусировка СЭМ. Получение изображения в режиме регистрации вторичных электронов. Определение пространственного разрешения СЭМ. Определение...
Методические указания. — Уфа: Башкирский государственный педагогический университет, 2011. — 24 с. Цикл лабораторных работ «Основы сканирующей зондовой микроскопии» включает 6 работ, с применением современных методов исследования поверхности: туннельной и атомно-силовой микроскопии. В связи с необходимостью представления большого количества графических материалов, рекомендуется...
Практикум. — Ярославль : ЯрГУ, 2015. — 52 с. В настоящем издании содержатся необходимые теоретические сведения об основных особенностях метода силовой зондовой микроскопии, описание порядка работы на микроскопе СММ‑ 2000 в режиме атомно-силовой микроскопии, задания и справочные материалы для выполнения лабораторных работ, рекомендации по их выполнению, список литературы,...
Учебно-методическое пособие к выполнению курсовой работы. — Севастополь: СевГУ, 2019. — 46 с. Цель учебно-методических указаний — помощь студентам при выполнении курсовой работы по курсу. Введение. Получение микрофотографий образцов при помощи инвертированного оптического микроскопа Nikon Ti-S и цветной CCD камеры для микроскопа с высоким разрешением. Получение лазерных...
Конспект лекций. — Омск: ОмГТУ, 2013. — 28 с. Методические указания к лабораторным работам по дисциплине «Зондовая микроскопия» содержат краткие теоретические сведения, порядок выполнения лабораторных работ и контрольные вопросы. Предназначены для студентов, обучающихся по направлению 210600.62 — «Нанотехнология», а также могут быть использованы в образовательном процессе...
Методические указания. — Ярославль: ЯрГУ, 2012. — 40 с. Предназначены для студентов, обучающихся по направлению 210100.62 Электроника и наноэлектроника (дисциплина «Физические методы диагностики наноструктур», цикл Б3), очной формы обучения. Сканирующая зондовая микроскопия. Физические основы работы туннельных микроскопов. Конструкция микроскопа СММ-2000. Методические указания...
Учебно-методическое пособие к лабораторному практикуму. — Севастополь: СевГУ, 2019. — 51 с. Цель учебно-методических указаний — помощь студентам при прохождении лабораторного практикума по курсу. Введение. Изучение устройства и общих принципов работы 3D сканирующего лазерного рамановского спектрометра Confotec NR500. Получение микрофотографий образцов при помощи...
Методические указания к лабораторным работам. — Рязань: Рязанский государственный радиотехнический университет, 2011. — 48 с. Содержат сведения по изучению принципов и навыков работы на сканирующих зондовых микроскопах для исследования свойств материалов и структур электроники. Предназначены для подготовки дипломированных специалистов по направлению 200100 — «Электроника и...
Методические указания к выполнению лабораторной работы. — Томск: ТПУ, 2017. — 10 с. Цель работы: ознакомиться с принципом действия и конструкцией оптических микроскопов и эндоскопов. Научиться использовать оборудование для визуального контроля микрообъектов и труднодоступных мест.
Комментарии