Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Микроскопия

М
Автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико математических наук: 01.04.01 – приборы и методы экспериментальной физики. — Институт физики микроструктур РАН. — Нижний Новгород, 2009. — 35 с. Целью диссертационной работы являлась разработка новых методик сканирующей зондовой микроскопии и их применение для исследования локальных (на нанометровых масштабах)...
  • №1
  • 2,61 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Р
БГТУ, 2008, 31 стр. Введение Электронно-микроскопический метод исследования Физические основы растровой электронной микроскопии Разновидности растрового электронного микроскопа Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним Технические возможности растрового электронного...
  • №2
  • 271,33 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
С
БГТУ, 2008, 40 стр Введение Историческая справка Принципы работы сканирующего зондового микроскопа Сканирующие элементы (сканеры) зондовых Сканирующие элементы Нелинейность пьезокерамики Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца Механические редукторы Шаговые электродвигатели Шаговые пьезодвигатели Защита зондовых...
  • №3
  • 2,62 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Ф
Описание лабораторной работы. — Н. Новгород: Нижегородский государственный университет, 2001. — 22 с. В данной лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Описание лабораторной работы подготовлено в рамках совместной Российско-Американской программы...
  • №4
  • 840,13 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.