ИХС РАН, СПб., Пугачев К.Э., 2014 г., 40 слайдов. Дисциплина «Методы исследования наноматериалов». Физические основы метода АСМ; Кантилеверы; Защитные покрытия на углеродные материалы; Исследование причин обрыва стекловолокна; Пленочные газовые сенсоры.
Комментарии