Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Рентгеноспектральный анализ

А
Учебно-методическое пособие. — Екатеринбург: Уральский университет, 2017. — 96 с. Учебно-методическое пособие содержит описание устройства и техники работы с рентгенофлуоресцентным спектрометром «ARL ADVANT’X 4200W», предназначенным для качественного и количественного элементного анализа растворов, порошков и твердых проб, а также описание устройства и техники работы с...
  • №1
  • 27,77 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
М
Методические указания к практическим занятиям по дисциплине "Технология полупроводниковых материалов, приборов и интегральных микросхем" Ленинград, издательство ЛЭТИ, 1991, 32с. Рассматривается применение рентгеноспектрального микроанализа для решения ряда практических задач полупроводниковой технологии. Даны краткие описания задач и путей их решения, а также сформулированы...
  • №2
  • 1,77 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Н
Практикум. — Москва: МИРЭА — Российский технологический университет, 2021. — 38 с. Практикум разработан в помощь студентам, выполняющим лабораторные работы по дисциплине «Дифракционные методы». Рассмотрены особенности исследования материалов методом РФА, подготовки образцов, проведения и обработки экспериментальных данных. Предназначен для студентов 2 курса магистратуры...
  • №3
  • 2,86 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
С
Качественный рентгенофлуоресцентный анализ: методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Физико-химические методы анализа» для студентов IV курса, обучающихся по направлению 240501 «Химическая технология материалов современной энергетики» / В.И. Соболев Томский политехнический университет. – Томск: Изд-во Томского политехнического университета, 2014. – 18 с....
  • №4
  • 837,38 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.