Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Методы исследования наноматериалов

Доверенные пользователи и модераторы раздела

Springer, 2007. — 349 p. Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface...
  • №1
  • 4,71 МБ
  • добавлен
  • изменен
Wiley, 2009. — 282 p. Detection of drugs at low concentration is required in a variety of biological and medical situations, in order to avoid harmful side effects posed by some drug residues. The book details the instrumentation, detection, and application of nano chromatography (that is, any chromatographic and capillary electrophoretic method dealing with the detection of a...
  • №2
  • 8,50 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer International Publishing AG, 2018. — 168 p. — (Springer Theses). — ISBN 3319770942. This thesis offers a unique guide to the development and application of ultrasensitive optical microscopy based on light scattering. Divided into eight chapters, it covers an impressive range of scientific fields, from basic optical physics to molecular biology and synthetic organic...
  • №3
  • 6,05 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag, Berlin, 2010, 956 pages This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical...
  • №4
  • 29,71 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2010. 710 p. This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications,...
  • №5
  • 21,55 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
John Wiley & Sons, Ltd, West Sussex, UK, 2014. — 312 p. — (Inorganic Materials Series) — ISBN 1119953197 This volume examines important experimental techniques needed to characterise inorganic materials in order to elucidate their properties for practical application. Addressing methods that examine the structures and properties of materials over length scales ranging from local...
  • №6
  • 6,00 МБ
  • добавлен
  • изменен
The Royal Society of Chemistry, UK, 2016. — 534 p. — (RSC Nanoscience & Nanotechnology No.38) Sensing and measuring temperature is a crucial need for countless scientific investigations and technological developments. Consequently, as technology progresses into the nanoscale an increasing demand for accurate, non-invasive and self-referenced temperature measurements at...
  • №7
  • 19,52 МБ
  • добавлен
  • изменен
NanoSight Ltd, 2013. — 191 p. Ever since its inception in 2003 Nanoparticle Tracking Analysis (NTA) has found uses in a wide variety of different applications. The growth of these applications, coupled with the unique data NTA is able to provide users has lead to an exponential increase in the number of papers published in the scientific literature that cite NTA data. In order...
  • №8
  • 2,61 МБ
  • добавлен
  • изменен
World Scientific, 2007. 476 p. ISBN:9812707840 This seminal book unites three different areas of modern science: the micromechanics and nanomechanics of composite materials; wavelet analysis as applied to physical problems; and the propagation of a new type of solitary wave in composite materials, nonlinear waves. Each of the three areas is described in a simple and...
  • №9
  • 5,72 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2005. – 543 p. – ISBN-10, 3-540-31914-X. This volume contains the invited and contributed papers presented at the fourteenth conference on ‘Microscopy of Semiconducting Materials’ held at the University of Oxford on 11–14 April 2005. The event was organised with sponsorship by the Royal Microscopical Society, the Electron Microscopy and...
  • №10
  • 29,80 МБ
  • добавлен
  • изменен
Elsevier, 2017. — 214 p. Nanocharacterization Techniques covers the main characterization techniques used in nanomaterials and nanostructures. The chapters focus on the fundamental aspects of characterization techniques and their distinctive approaches. Significant advances that have taken place over recent years in refining techniques are covered, and the mathematical foundations...
  • №11
  • 21,17 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer International Publishing Switzerland, 2015. – 281 p. – ISBN 978-3-319-15176-2. The book entitled Advanced Transmission Electron Microscopy: Applications to Nanomaterials is an effort to try to bring an update in the fi eld of nanomaterials that have been explored employing state - of - the - art electron microscopic techniques. Electron microscopy has undergone...
  • №12
  • 12,58 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2017. — 46 p. — (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology: Nanoscience and Nanotechnology). — ISBN 978-981-10-1874-9. This Brief will focus on the functional uses and applications of FRET, starting with the derivation of FRET in the assemblies of nanostructures and subsequently giving application cases for biologists, physicists, chemists, material scientists,...
  • №13
  • 1,80 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2011. - 304 p. - ISBN 78-3-642-12521-8. The goal of this book is to provide the best possible overview of the theoretical and practical facts and issues associated with confocal Raman microscopy. With the incorporation of over a dozen contributions from expert scientists and research groups spanning a wide range of applications in academic research as well as...
  • №14
  • 9,23 МБ
  • добавлен
  • изменен
VCH, Weinheim, 1994. 163 pp. This monograph describes the application of atomic force microscopy (AFM) and scanning transmission electron microscopy (STM) to studying nanomaterials. It contains a wide array of benchmark experiments and relevant examples and extensions of the capabilities which these made available. Contents List of Symbols and Abbreviations Introduction...
  • №15
  • 4,47 МБ
  • добавлен
  • изменен
VCH, Weinheim, 1994. – 173 p. – ISBN: 3527292470. pdf Derived from the highly acclaimed series Materials Science and Technology, this book provides in–depth coverage of STM, AFM, and related non–contact nanoscale probes along with detailed applications, such as the manipulation of atoms and clusters on a nanometer scale. Contents Introduction Scanning Tunneling...
  • №16
  • 14,01 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2013. — 378 p. This book presents cutting-edge research on a wide range of nanotechnology techniques and applications. It features contributions from scientists who participated in the International Summer School Nanotechnology: From Fundamental Research to Innovations in Bukovel, Ukraine on August 26 – September 2, 2012 funded by the European Commission FP7 project...
  • №17
  • 9,73 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2008. — (Advances in Materials Research 10). — ISBN: 978-3-540-77967-4; 978-3-540-77968-1. This book covers recent progress in advanced materials research as reviewed by forefront researchers in contributions which would also be suitable for researchers and postgraduates in a related field. It starts with comprehensive reviews of exotic materials for electronic...
  • №18
  • 7,23 МБ
  • добавлен
  • изменен
WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, 2009. – 790 p. – ISBN: 978-3-527-32017-2. Over the past two decades, studies of chemical reaction dynamics have shifted from ideal systems of isolated molecules in the gas phase, of molecular clusters in jet beams, on ultra-clean surfaces, in homogeneous and in dilute molecular solutions, and in bulk crystals, towards nanosystems of...
  • №19
  • 15,56 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag, London, Limited, 2010. – 369 p. – ISBN: 1849962537 The act of measuring, which is used for determining the size, amount or degree of a parameter by an instrument through comparison with a standard unit, or used indirectly by calculation based on theory, makes science and technology different from imagination. Measurement is also essential in industry, commerce...
  • №20
  • 21,93 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2016. — 58 p. — (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology: Subseries: Nanoscience and Nanotechnology). — ISBN 978-981-287-377-4. This Brief presents a historical overview of the Förster-type nonradiative energy transfer and a compilation of important progress in FRET research, starting from Förster until today, along with a summary of the current...
  • №21
  • 1,29 МБ
  • добавлен
  • изменен
WILEY-VCH, Verlag, 2010. — 263 p. — ISBN 9783527322886 X-Rays in Nanoscience comprehensively explores the use of X-rays in the determination of surface structures by treating spectroscopy, microscopy, and scattering techniques, all of them using different methodology. With nanotechnology becoming increasingly important, this groundbreaking text covers methods that are...
  • №22
  • 9,17 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2017. — 48 p. — (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology: Nanoscience and Nanotechnology). — ISBN 978-981-10-1871-8. This Brief presents a complete study of the generalized theory of Förster-type energy transfer in nanostructures with mixed dimensionality. Here the aim is to obtain a generalized theory of FRET including a comprehensive set of analytical...
  • №23
  • 2,79 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2005. - 324 p. - This volume contains a comprehensive collection of overview articles on novel microscopy methods for imaging magnetic structures on the nanoscale. Written by leading scientists in the field, the book covers synchrotron based methods, spin-polarized electron methods, and scanning probe techniques. It constitutes a valuable source of reference for graduate...
  • №24
  • 7,24 МБ
  • добавлен
  • изменен
ISTE Ltd and John Wiley & Sons, Inc., 2017. — 272 p. — ISBN 978-1-84821-577-1. Probably the most widely used IBA method is Rutherford Backscattering Spectroscopy. The relative ease with which it could be implemented on the small electrostatic accelerators that became available as nuclear physics required ever higher energies and new kinds of accelerator is certainly one of the...
  • №25
  • 20,86 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer Science+Business Media, LLC, 2007. — 1002 p. — ISBN: 0387286675 Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from...
  • №26
  • 12,93 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer International Publishing AG, 2017. — 178 p. — (Springer Theses) — ISBN 3319605364. This thesis presents a novel single-molecule spectroscopy method that, for the first time, allows the dipole orientations and fluorescence lifetimes of individual molecules to be measured simultaneously. These two parameters are needed to determine the position of individual molecules with...
  • №27
  • 8,41 МБ
  • добавлен
  • изменен
CRC Press, Taylor & Francis Group, LLC, 2017. — 252 p. — ISBN-10: 1498779646 Conjugated polymeric materials and their nanocomposites are widely used for the creation of alternative sources of renewable energy, cell phone screens, mobile gadgets, video players and OLED-TV, as well as organic diodes, transistors, sensors, etc. with field-dependent and spin-assisted electronic...
  • №28
  • 7,40 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2012. - 659 p. - First volume of a 40-volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about Raman spectroscopy for the characterization of nanomaterials. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered and make this volume essential reading for research...
  • №29
  • 24,51 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag GmbH, Germany, 2018. — 458 p. — ISBN 3662563215. Seventh volume of a 40 volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about In-situ Characterization Techniques for Nanomaterials. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered and make this volume...
  • №30
  • 18,68 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag GmbH, Germany, 2018. — 398 p. — ISBN 3662563215. Seventh volume of a 40 volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about In-situ Characterization Techniques for Nanomaterials. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered and make this volume...
  • №31
  • 11,75 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2014. — 717 p. Third volume of a 40volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about Transmission electron microscopy characterization of nanomaterials. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered and make this volume an essential reading for...
  • №32
  • 59,04 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, 2016. — 835 p. — ISBN: 9783662486047 Fifth volume of a 40 volume series on nanoscience and nanotechnology, edited by the renowned scientist Challa S.S.R. Kumar. This handbook gives a comprehensive overview about X-ray and Neutron Techniques for Nanomaterials Characterization. Modern applications and state-of-the-art techniques are covered...
  • №33
  • 31,24 МБ
  • добавлен
  • изменен
VCH, 1996. — 339 p. Scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) are powerful tools for surface examination. In the past, many STM and AFM studies led to erroneous conclusions due to lack of proper theoretical considerations and of an understanding of how image patterns are affected by measurement conditions. For this book, two world experts, one on...
  • №34
  • 19,56 МБ
  • добавлен
  • изменен
New York, Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2000. — 260 p. — ISBN: 0-306-46415-2 This monograph is designed to provIde researchers and students the necessary informatIon to plan and experimentally conduct an atom probe tomography experiment. The techniques required to vIsualize and to analyze the resulting three-dImensional data are also descnbed. The monograph is organized into...
  • №35
  • 9,86 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2014. — 423 p. This book is a practical guide for researchers interested in atomic level characterization of materials with atom-probe tomography. Readers will find descriptions of the atom-probe instrument and atom-probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy. The fundamental underlying physics principles are examined, in...
  • №36
  • 13,24 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer Science+Business Media, Singapore, 2015. — 284 p. — ISBN 9812872418. This book focuses on several areas of intense topical interest related to applied spectroscopy and the science of nanomaterials. The eleven chapters in the book cover the following areas of interest relating to applied spectroscopy and nanoscience Raman Spectroscopy, Modeling and Simulation Studies of...
  • №37
  • 8,61 МБ
  • добавлен
  • изменен
Taylor & Francis Group, 2013. — 366 p. Many books and reviews about scanning probe microscopies (SPM) cover the basics of their performance, novel developments, and state-of-the-art applications. Taking a different approach, Hybridizing Surface Probe Microscopies: Towards a Full Description of the Meso- and Nanoworlds encompasses the technical efforts in combining SPM with...
  • №38
  • 24,26 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2007. — 207 p. Scanning tunneling microscopy - with its applications that span not only atomic resolution but also scanning tunneling spectroscopy, atom/molecule manipulation and nanostructuring, and inelastic electron tunneling spectroscopy - has achieved remarkable progress and become the key technology for surface science. Besides, atomic force microscopy is also...
  • №39
  • 4,91 МБ
  • добавлен
  • изменен
Taylor & Francis Group, 2014. — 609 p. This book introduces the key concepts of nanoscale spectroscopy methods used in nanotechnologies in a manner that is easily digestible for a beginner in the field. It discusses future applications of nanotechnologies in technical industries. It also covers new developments and interdisciplinary research in engineering, science, and...
  • №40
  • 41,42 МБ
  • добавлен
  • изменен
InTech, 2012. - 253 p. - This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, to oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning...
  • №41
  • 19,66 МБ
  • добавлен
  • изменен
Pan Stanford Publishing, 2011. — 358 p. Nanoindentation is ideal for the characterization of inhomogeneous biological materials. However, the use of nanoindentation techniques in biological systems is associated with some distinctively different techniques and challenges. The book presents the basic science of nanoindentation, including the background of contact mechanics...
  • №42
  • 8,51 МБ
  • добавлен
  • изменен
2nd Edition. — Springer Science, 2004. — 409 p. — ISBN 0387400923. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a...
  • №43
  • 16,21 МБ
  • добавлен
  • изменен
CRC Press, Taylor & Francis Group, 2013. 768 p. — ISBN-13: 978-9-81436-451-5 (eBook - PDF). When the size and the shape of materials are reduced to the nanoscale dimension, their physical and chemical properties can change dramatically. This book demonstrates the controlled size and shape of nanostructured materials and their applications. The applications cover...
  • №44
  • 14,98 МБ
  • добавлен
  • изменен
Wiley, 2006. — 559 p. This first book to focus on the use of SPMs to actively manipulate molecules and nanostructures on surfaces goes way beyond conventional treatments of scanning microscopy merely for imaging purposes. It reviews recent progress in the use of SPMs on such soft materials as polymers, with a particular emphasis on chemical discrimination, mechanical...
  • №45
  • 13,48 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag Berlin, 2007, 191 pages, ISBN: 3540719504 Light scattering is a very powerful method for characterizing the structure of polymers and nanoparticles in solution. As part of the Springer Laboratory series, this book provides a simple-to-read and illustrative textbook probing the seemingly very complicated topic of light scattering from polymers and nanoparticles...
  • №46
  • 3,33 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer ScienceCBusiness Media Dordrecht, 2013. – 486 p. – ISBN Thermal Analysis of Micro-, Nano- and Non-Crystalline Materials: Transformation, Crystallization, Kinetics and Thermodynamics complements and adds to volume 8 Glassy, Amorphous and Nano-Crystalline Materials by providing a coherent and authoritative overview of cutting-edge themes in the field of crystalline...
  • №47
  • 8,03 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer (India) Pvt. Ltd.. 2017. — 183 p. — (Advanced Structured Materials. Volume 62) — ISBN: 9788132236535 Nanotechnology has opened up a new area of research in different fields. Advantages are as many as to overcome disadvantages. The present collection intends to describe the applications of electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy in the area of nanomaterial...
  • №48
  • 5,77 МБ
  • добавлен
  • изменен
WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, Germany, 2014. — 284 p. — ISBN: 9783527410774 For the last 100 years, ever since the centennial work of Laue and Bragg, classical X-ray diffraction experiments have been characterized by two very different length scales, opposed by five to seven orders of magnitude: the sub-nm wavelength of X-ray radiation on the one hand, and the...
  • №49
  • 9,45 МБ
  • добавлен
  • изменен
Taylor & Francis Group, 2014. — 444 p. Recent developments in atomic force microscopy (AFM) have been accomplished through various technical and instrumental innovations, including high-resolution and recognition imaging technology under physiological conditions, fast-scanning AFM, and general methods for cantilever modification and force measurement. All these techniques are...
  • №50
  • 7,95 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2019. — 269 p. — (Springer Series in Materials Science 276). — ISBN 9811318271. This book shows the electronic, optical and lattice-vibration properties of the two-dimensional materials which are revealed by the Raman spectroscopy. It consists of eleven chapters covering various Raman spectroscopy techniques (ultralow-frequency, resonant Raman spectroscopy, Raman...
  • №51
  • 14,03 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2019. — 261 p. — (Springer Series in Materials Science 276). — ISBN 9811318271. This book shows the electronic, optical and lattice-vibration properties of the two-dimensional materials which are revealed by the Raman spectroscopy. It consists of eleven chapters covering various Raman spectroscopy techniques (ultralow-frequency, resonant Raman spectroscopy, Raman...
  • №52
  • 85,13 МБ
  • добавлен
  • изменен
Imperial College Press, 2015. — 616 p. The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration...
  • №53
  • 34,73 МБ
  • добавлен
  • изменен
John Wiley & Sons, Inc., New Jersey, Canada, 2016. – 317 p. – ISBN: 1118753593 Introduces basic knowledge for nanomaterial characterization focusing on key properties and the different analytical techniques available. Provides a quick reference to different analytical methods for a given property highlighting their pros and cons. Presents numerous case studies, ranging from...
  • №54
  • 6,56 МБ
  • добавлен
  • изменен
Elsevier, 2017. — 412 p. — Volume 1 of Micro and Nano Technologies Series Microscopy Methods in Nanomaterials Characterization fills an important gap in the literature with a detailed look at microscopic and X-ray based characterization of nanomaterials. These microscopic techniques are used for the determination of surface morphology and the dispersion characteristics of...
  • №55
  • 32,01 МБ
  • добавлен
  • изменен
Elsevier, 2017. — 425 p. — Volume 2 of Micro and Nano Technologies Series Nanomaterials Characterization Techniques, Volume Two, part of an ongoing series, offers a detailed analysis of the different types of spectroscopic methods currently being used in nanocharacterization. These include, for example, the Raman spectroscopic method for the characterization of carbon nanotubes...
  • №56
  • 40,53 МБ
  • добавлен
  • изменен
Elsevier, 2017. — 277 p. — Volume 3 of Micro and Nano Technologies Series Thermal and Rheological Measurement Techniques for Nanomaterials Characterization, Second Edition covers thermal and rheological measurement techniques, including their principle working methods, sample preparation and interpretation of results. This important reference is an ideal source for materials...
  • №57
  • 19,06 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, 2015. – 340 p. – ISBN-10: 3662455463 This book describes developments in the field of super-resolution fluorescence microscopy or nanoscopy. In 11 chapters, distinguished scientists and leaders in their respective fields describe different nanoscopy approaches, various labeling technologies, and concrete applications. The topics covered...
  • №58
  • 9,83 МБ
  • добавлен
  • изменен
2nd Edition. — Springer International Publishing AG, 2018. — 603 p. — (Springer Series in Surface Sciences 66). — ISBN 3319753789. This second edition provides a cutting-edge overview of physical, technical and scientific aspects related to the widely used analytical method of confocal Raman microscopy. The book includes expanded background information and adds insights into how...
  • №59
  • 33,46 МБ
  • добавлен
  • изменен
2nd Edition. — Springer International Publishing AG, 2018. — 603 p. — (Springer Series in Surface Sciences 66). — ISBN 3319753789. This second edition provides a cutting-edge overview of physical, technical and scientific aspects related to the widely used analytical method of confocal Raman microscopy. The book includes expanded background information and adds insights into how...
  • №60
  • 20,14 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2018. — 511 p. — (Springer Tracts in Modern Physics 272). — ISBN-10 981130453X. This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials...
  • №61
  • 32,71 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer, 2018. — 511 p. — (Springer Tracts in Modern Physics 272). — ISBN-10 981130453X. This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials...
  • №62
  • 18,97 МБ
  • добавлен
  • изменен
Taylor & Francis Group, LLC, 2015. — 248 p. — ISBN: 146658629X. Microscopy is at the forefront of multidisciplinary research. It was developed by physicists, made specific by chemists, and applied by biologists and doctors to better understand how the human body works. For this very reason, the field has been revolutionized in past decades. The objective of Optical Nanoscopy...
  • №63
  • 4,46 МБ
  • добавлен
  • изменен
World Scientific Publishing, 2009. — 395 p. Optical properties are among the most fascinating and useful properties of nanomaterials and have been extensively studied using a variety of optical spectroscopic techniques. A basic understanding of the optical properties and related spectroscopic techniques is essential for anyone who is interested in learning about nanomaterials of...
  • №64
  • 6,11 МБ
  • добавлен
  • изменен
Springer Science+Business Media, 2006, 522 pages Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation. Scanning Microscopy for Nanotechnology addresses the rapid development of these techniques for nanotechnology, in both technique and...
  • №65
  • 13,22 МБ
  • добавлен
  • изменен
М.: Научный мир, 2012. — 392 с. Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей....
  • №66
  • 16,97 МБ
  • добавлен
  • изменен
Андреева О.В., Андреева Н.В., Дроздов А.А., Кузьмина Т.Б., Исмагилов А.О., Чигрин Р.Н. — Учебное пособие – СПб: Университет ИТМО, 2016. – 30 с. Учебное пособие включает описание лабораторных работ по определению размеров наночастиц в жидких суспензиях и эмульсиях методом динамического рассеяния света. Даны методические материалы, необходимые студентам для выполнения...
  • №67
  • 1,38 МБ
  • добавлен
  • изменен
Монографія. — К. : НТТУ «КПІ», 2014. — 258 с. Вступ Методи та засоби мікроскопії в нанотехнологіях Лазерна скануюча конфокальна мікроскопія Ближньопольна оптична мікроскопія Іонно-польна мікроскопія Електронна мікроскопія високої роздільної здатності, що працює на просвітлення Скануюча тунельна мікроскопія Атомно-силова мікроскопія Магнітно-силова мікроскопія Електросилова...
  • №68
  • 14,64 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — СПб.: Университет ИТМО, 2015. — 130 с. Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов. Рекомендовано Учебно-методическим...
  • №69
  • 8,97 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — Казань: КНИТУ, 2014. — 84 с. Приводятся краткие теоретические сведения о строении, свойствах, применении и методах определения наноструктурированных сред и использовании этих знаний и умений для прогнозирования новых структур с заданными свойствами. Содержит также три практические работы, в которых используются тензиометрический и спектрофотометрический...
  • №70
  • 1,11 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — Казань: КНИТУ, 2013. — 88 с. Кратко изложены основы сертификации, в том числе и лиотропной нанопродукции, а также современные методы исследования, в частности, метод малоуглового нейтронного рассеивания в сочетании с компьютерным моделированием. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки "Стандартизация и сертификация", "Управление...
  • №71
  • 1,36 МБ
  • добавлен
  • изменен
Беляев А.Е., Болтовец Н.С., Венгер Е.Ф., Волков Е.Г., Кладько В.П., Конакова Р.В., Кудрик Я.Я., Миленин В.В., Миленин Г.В., Пилипенко В.А., Редько Р.А., Саченко А.В. — Харьков: ИСМА, 2011. — 284 с. — ISBN 978-966-02-5859-4. Монография охватывает базовые физические методы диагностики в микроэлектронике: методы рентгеновской дифракционной диагностики полупроводниковых материалов и...
  • №72
  • 5,73 МБ
  • добавлен
  • изменен
Екатеринбург, УрГУ им. А. М. Горького, 2008. Учебно-методический комплекс Цель дисциплины - сформировать у студентов качественные и количественные представления о явлениях на атомном и наномасштабном уровне, происходящих на поверхности раздела фаз газ - твердое тело. На основе анализа экспериментальных данных, используя современные методы теоретической физики, рассмотреть...
  • №73
  • 4,34 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н. Учебное пособие. - М.: МИФИ, 2008. - 260 с. Распознано В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая...
  • №74
  • 6,46 МБ
  • добавлен
  • изменен
М.: Техносфера, 2004. - 384 с. Распознано Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных...
  • №75
  • 18,76 МБ
  • добавлен
  • изменен
М.: Техносфера, 2004. — 384 с. — ISBN 5-94836-018-0. Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели...
  • №76
  • 10,71 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие (Лабораторный практикум) / М.А. Бубенчиков, Е.Э. Газиева, А.О. Гафуров, Г.С. Глушков, Д.С. Жданов, Д.В. Саньков, В.И. Сырямкин, С.В. Шидловский, А.В. Юрченко; Под ред. д.т.н., профессора В.И. Сырямкина. — Томск: Изд-во Том. ун-та, 2010. — 366 с. Учебное пособие посвящено актуальным методам и средствам исследования материалов и нанотехнологий и ориентировано на...
  • №77
  • 9,53 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов". — М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2010. — 31 с. 300 dpi, ч/б, OCR В пособии рассмотрены способы, используемые для оценки твердости нанопокрытий. Для студентов специальности "Материаловедение в машиностроению", специализации «Наноматериалы» и слушателей Межотраслевого института повышения...
  • №78
  • 929,25 КБ
  • добавлен
  • изменен
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
  • №79
  • 4,41 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Под редакцией заслуженного деятеля науки РФ, Член-корреспондента РАН, профессора, В.А. Шахнова. — Москва: МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009. — 58 с. — (Библиотека Наноинженерии). Комплект учебно-методического обеспечения для подготовки бакалавров и магистров по программам высшего профессионального образования направления подготовки «Нанотехнология» с профилем подготовки...
  • №80
  • 2,79 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — Казань: Изд-во КНИТУ, 2014. — 184 с. Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах....
  • №81
  • 11,37 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — СПб., СПбГУ, 2010. — 71 с. Пособие содержит теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии и физические принципы атомно-силовой и туннельной микроскопии. Приводится описание лабораторного стенда на основе сканирующего мультимикроскопа СММ 2000 и лабораторных работ с последующей обработкой полученных результатов. Приобретенные в ходе выполнения работ...
  • №82
  • 2,38 МБ
  • добавлен
  • изменен
Екатеринбург, УГУ им. А. М. Горького, 2007. Учебно-методический комплекс. Рассмотрены вопросы дифракции рентгеновских лучей и нейтронов на нанокристаллах. Описаны методы определения размеров кристаллитов (Фурье-синтез, малоугловое рассеяние), определение толщины и числа слоев в сверхрешетках (рентгеновская рефлектометрия), малоугловое рассеяние нейтронов наноматериалами. УМКД...
  • №83
  • 2,69 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебно-методическое пособие. - Ростов-н/Д.: ЮФУ, 2008. - 30 с. В учебно-методическом пособии изучаются различные методы сканирующей зондовой микроскопии. Рассматриваются физические основы методов и возможности применения конкретной методики к конкретному материалу. Рассмотрены достоинства и недостатки методов.
  • №84
  • 551,97 КБ
  • добавлен
  • изменен
М.: МФТИ, 2011. — 160 с. — ISBN 978-5-8493-0218-8 Учебное пособие «Приборы и методы зондовой микроскопии» содержит подробное описание зондовых микроскопов, их принципов работы и применениям в изучении объектов нанотехнологий. Отдельные разделы пособия посвящены сканирующей туннельной, атомно- силовой и оптической ближнепольной микроскопии. Особое внимание в пособии уделено...
  • №85
  • 3,32 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с. Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории...
  • №86
  • 2,17 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Электронное учебно-методическое пособие. – Нижний Новгород, ННГУ, 2012. – 80 с. В учебно-методическом пособии рассмотрены основные виды приборов на спинзависимых эффектах, материалы, наиболее часто используемые для их изготовления. Описаны основные методы исследования полупроводниковых приборов, а также дополнительные методы исследования спин-зависимых характеристик....
  • №87
  • 1,99 МБ
  • добавлен
  • изменен
Монография. Перевод с английского Иванова С.А. и Домкина К.И. под редакцией Каминской Т.П. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. — ISBN 978-5 -9963-2123 -0 Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъекгов,...
  • №88
  • 12,27 МБ
  • добавлен
  • изменен
Монография под ред. У. Жу, Ж.Л. Уанга; пер. с англ. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. — ISBN 978-5-9963-1110-1 Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъекгов, но и технологию их изготовления in...
  • №89
  • 28,24 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — А.П. Ильин, А.В. Коршунов, Д.О. Перевезенцева, Л.О. Толбанова. — Томск: Томский политехнический университет, 2008. — 249 с. Пособие посвящено методам физико-химического анализа нанопорошков и наноматериалов. На основе экспериментальных данных впервые показаны особенности диагностики нанопорошков с помощью традиционных методов. Пособие содержит ряд оригинальных...
  • №90
  • 26,32 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — М.: МИЭТ, 2011. — 256 с. — ISBN 978-5-7256-0658-4 Изложены основные вопросы метрологии с акцентом на ее прикладные аспекты. Представлен и разобран ряд методически и практически важных экспериментальных методов и измерительных методик. Значительное внимание уделено постановке эксперимента, процедурам и схемам измерений, анализу причин и физических эффектов,...
  • №91
  • 5,50 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А.М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 143 с. Общая характеристика процесса измерений. Виды и методы измерений. Физические величины и единицы измерения. О погрешностях измерения. Основные понятия. Оценка погрешностей прямых измерений. Оценка...
  • №92
  • 1,00 МБ
  • добавлен
  • изменен
Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 9 с. Программа дисциплины «Методы измерений электрических и магнитных свойств функциональных материалов» составлена в соответствии с требованиями вузовского компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки:...
  • №93
  • 169,75 КБ
  • добавлен
  • изменен
Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы", 2008. — 13 с. Программа специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии» составлены в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по...
  • №94
  • 259,80 КБ
  • добавлен
  • изменен
Курск: Юго-Зап. гос. ун-т, 2013. — 78 с. — ISBN 978-5-905556-81-4 Предназначено для студентов специальностей 210600.62 «нанотехнология», 222900.62 «нанотехнологии и микросистемная техника» при изучении дисциплин: "Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов" и "Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем". Приводится...
  • №95
  • 964,90 КБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. - М.: МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2010. - 80 с. В учебном пособии представлены основные понятия, специфика объектов исследования, классификация физических методов и теоретические основы рентгеновского эксперимента. Главное внимание уделено особенностям нанообъектов и их методов изучения. Для студентов магистратуры, изучающих дисциплины "Методы исследования...
  • №96
  • 1,31 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие. - М.: МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2010. - 80 с. В учебном пособии представлены результаты изучения наиболее перспективных в настоящее время нанообъектов (углеродные наноструктуры, диоксиды титана) комплексом методов, основными из которых являются рентгенографические. Для студентов магистратуры, изучающих дисциплины "Методы исследования реальной кристаллической...
  • №97
  • 10,91 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. - Воронеж, ВГУ, 2006. - 40 с. Учебное пособие по курсу «Химия наноразмерных частиц» подготовлено на кафедре неорганической хими и химического факультета Воронежского государственного университета и кафедре химии Воронежского государственного архитектурно-строительного университета. Введение. Спектры испускания лучей. Дифракция рентгеновских лучей....
  • №98
  • 484,76 КБ
  • добавлен
  • изменен
Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 89 с. В пособии дано описание принципов работы и основных характеристик компонентов оптических спектроскопических систем (источников и детекторов излучения, спектральных приборов). Рассмотрен ряд методов оптической и фотоэлектрической...
  • №99
  • 1,16 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие. — СПбГПУ, 2011. — 190 с. Предлагаемое учебное пособие ставит целью ознакомить студентов с основами наиболее востребованных методов электронной и ионной спектроскопии, широко применяющимися для анализа материалов, структур и компонентов электронной техники в микро и наномасштабе В пособии описываются методы электронной и ионной спектроскопии для анализа...
  • №100
  • 14,02 МБ
  • добавлен
  • изменен
Киев: Академпериодика, 2005. – 361 с. Монография описывает один из революционных прорывов в физике и посвящается всемирному году физики. В монографии анализируются новые уникальные возможности диагностики дефектов и характеристик основных структурных параметров наносистем на основе использования созданных в Институте металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины и имеющих...
  • №101
  • 8,33 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие. СПб.:Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ». 2012. 172 с. ISBN 978-5-7629-1243-3 Авторы: О.А. Александрова, П.А. Алексеев, И.Е. Кононова, А.И. Максимов, Е.В. Мараева, В.А. Мошников, Е.Н. Муратова, С.С. Налимова, Н.В. Пермяков, Ю.М. Спивак, А.Н. Титков Содержит систематизированные и оформленные в виде лабораторных работ оригинальные методики сканирующей зондовой микроскопии,...
  • №102
  • 5,73 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учеб. пособие СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2009, 80 с. ISBN 978-5-7629-0908-8 Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области...
  • №103
  • 3,24 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие. — СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2014. — 144 с. — ISBN 978-5-7629-1471-0 Рассматриваются различные методы атомно-силовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки магистров 210100.68 «Электроника и наноэлектроника» и по направлениям подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и...
  • №104
  • 7,80 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебно-методическое пособие. - Нижний Новгород, ННГУ, 2011. - 110 с. Рассматриваются физические основы методов электронной оже-спектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава...
  • №105
  • 4,20 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебно-методическое пособие. — Нижний Новгород: Нижегородский госуниверситет, 2012. — 39 с. В пособии описаны фотоэлектрические методы диагностики энергетического спектра гетеронаноструктур с квантовыми ямами (КЯ) и точками (КТ) типа In(Ga)As/GaAs и их оптоэлектронных свойств. Рассмотрены физические основы возникновения фоточувствительности в области межзонного оптического...
  • №106
  • 1,77 МБ
  • добавлен
  • изменен
Томск, ТПУ, 2009. - 90 с. Курс лекций посвящен активно развивающейся в настоящее время проблеме диагностики свойств наноматериалов. Особое внимание уделено микроскопическим методам исследования структуры наноматериалов. Особое внимание уделено микроскопическим методам исследования структуры наноматериалов. Тестирование свойств объемных нанокристаллических материалов полностью...
  • №107
  • 9,13 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебно-методическое пособие. - Казань: Казанский (Приволжский) федеральный университет, 2012. - 21 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов, приступивших к изучению спецкурсов "Материаловедение наноструктурированных материалов", "Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем", "Наноструктурные материалы и пленки". Задачей настоящей...
  • №108
  • 1,23 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебно-методический комплекс для магистров по дисциплине. — М., 2010. – 154 с. Содержание Тексты лекций Введение Основы электронной просвечивающей микроскопии (ТЭМ) Применение электронной микроскопии в биологии, основы структурной протеомики. Устройство электронного микроскопа Подготовка образцов нанобиообъектов, способы получения электронно-микроскопического...
  • №109
  • 29,29 МБ
  • добавлен
  • изменен
М.: Изд. Дом МИСиС, 2010. — 163 с. В последние 15-20 лет появились принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами, высокотемпературные сверхпроводящие керамики и монокристаллы, сегнетоэлектрики, сегнетоэластики, жидкие кристаллы, аморфные сплавы и пр., нашедшие применение в целом ряде направлений новой...
  • №110
  • 7,21 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — Тамбов: ТГТУ, 2014. — 96 с. Освещены вопросы методик и экспериментальной базы оценки физико-механических характеристик наноразмерных материалов, рассмотрены основные методы диагностики и свойства углеродного наноматериала на примере УНМ «Таунит». Приведён лабораторный практикум, отражающий способы количественного определения как физико-механических, так и...
  • №111
  • 2,80 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие. — СПб.: Соло, 2014. — 187 с. В учебном пособии на основе представлений феноменологической теории оптических свойств твердых тел анализируются условия регистрации в ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной областях абсорбционных и отражательно-абсорбционных спектров наноразмерных материалов. С учетом полученных в вычислительном эксперименте результатов для широкого...
  • №112
  • 2,55 МБ
  • добавлен
  • изменен
Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов...
  • №113
  • 7,58 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие. — М.: Можайский полиграфический комбинат оформление, 2011. — 184 с. — ISBN 978-5-8493-0200-3 Коллектив авторов: Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н., Коростылев Е.В. Пособие посвящено методам определения химического состава различных материалов: рентгеновскому микроанализу, фотоэлектронной спектроскопии, оже-спектроскопии, ионной...
  • №114
  • 4,36 МБ
  • добавлен
  • изменен
Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2008. - 204 с. Обобщены оригинальные результаты теоретических и экспериментальных исследований автодинных режимов работы полупроводниковых лазеров. Описаны особенности формирования автодинного сигнала в условиях сильной и слабой обратной оптических связи, влияние токовой модуляции на форму и...
  • №115
  • 982,77 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой...
  • №116
  • 913,87 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие для студ. фак. нано- и биомедицинских технологий. — Саратов: СГУ, 2006. — 23 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию режимов получения полупроводниковых самоорганизованных...
  • №117
  • 675,04 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие. — СПб: НИУ ИТМО, 2014. — 127 с. В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и...
  • №118
  • 4,31 МБ
  • добавлен
  • изменен
Новосибирск : СибГУТИ, 2016. - 61 с. Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов,...
  • №119
  • 7,56 МБ
  • добавлен
  • изменен
Новосибирск : СибГУТИ, 2016. - 66 с. Учебное пособие «Методы электронной спектроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов определения физических и структурных свойств материалов методами электронной спектроскопии. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для...
  • №120
  • 859,74 КБ
  • добавлен
  • изменен
Новосибирск: НГУ, 2008. - 92 с.: Библ.: 83 наим. В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для 1D и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для...
  • №121
  • 3,42 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Монография. — Ижевск, УдГУ, 2012. — 250 с. Рассмотрено применение метода рентгеноэлектронной спектроскопии для исследования металл/углеродных наноматериалов, полученных в нанореакторах полимерных матриц в присутствии систем 3d-переходных металлов. Синтез металл/углеродных наноструктур зависит от содержания компонентов и заполнения d-оболочки металла. Изучены функционализация...
  • №122
  • 5,63 МБ
  • добавлен
  • изменен
Монография. — Тамбов, Издательство ФГБОУ ВПО "ТГТУ", 2013. — 144 с. Рассмотрены методы и средства контроля состояния конденсированных сред с наноструктурными компонентами, дана их классификация, показаны особенности контроля сред, содержащих наноструктурные объекты. Приведены физико-математические модели конденсированных сред, использующих описание структурных состояний,...
  • №123
  • 1,64 МБ
  • добавлен
  • изменен
Екатеринбург: Нанотехнологии и перспективные материалы, 2008. - 32с. Руководство к лабораторным и практическим занятиям специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии» составлено в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600...
  • №124
  • 1,56 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • изменен
Учебное пособие для бакалавров технических вузов. — Тамбов: ТГТУ, 2015. — 84 с. — ISBN 978-5-8265-1468-9. Рассмотрены вопросы методик и экспериментальной базы оценки физико-механических характеристик наноразмерных материалов, материалов, модифицированных углеродными наноматериалами (УНМ), рассмотрены методы диагностики свойств и области применения углеродного наноматериала на...
  • №125
  • 3,28 МБ
  • добавлен
  • изменен
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.