Бриггс Д., Сих М.П. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

М.: Мир, 1987. — 600 с., ил.Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады представляет собой детальное и конкретное руководства по применению оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для анализа поверхности. Она является первой учебно-справочной монографией, в которой обобщены результаты огромного числа публикаций по этим вопросам. В первых пяти главах изложены необходимые научные основы методов, в гл. 6-10 рассмотрены их основные применения в важнейших областях современной техники.Для физиков и химиков, занимающихся исследованиями поверхности, инженеров, связанных с технологией работ, аспирантов и студентов.