Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Боуэн Д.К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

  • Файл формата pdf
  • размером 40,29 МБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Боуэн Д.К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
Монография. — Переводчики И. Шульпина, Т. Аргунова. — М.: Наука, 2002. — 256 с. — ISBN 5-02-024963-7.
В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения.
Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация