Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122УДК 537.533.35Электронно микроскопическое изображение.
Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение.
Дифракция от кристалла.
Функция прохождения.
Изображение.
Фазовый и амплитудный контраст.
Передаточная функция.
Светлопольное изображение.
Темнопольное изображение.
Микродифракция.
Просвечивающая растровая электронная микроскопия.Эм изображения атомов.
Эм изображения кристаллической структуры. Тонкий кристалл.
Эм изображение толстых кристаллов.
Метод фазовой решетки (слоевой метод).
Метод контрастированйя биообъектов. Обработка, интерпретация и расчет изображений. Сравнение возможностей электронной микроскопии и дифракционного структурного анализа кристаллов.
Экспериментальные исследования атомной структуры с помощью ЭМВР.
Изображения атомов и молекул.
Изображения кристаллической структуры.
Дефекты идеальной структуры.
Комбинированные нерегулярнопериодические структуры. Зарождение кристаллов.