Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

  • Файл формата pdf
  • размером 3,09 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография
Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с.
В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур.
Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям:
20200 "Нанотехнология в электронике",
073800 "Наноматериалы",
200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника",
201900 "Микросистемная техника".
Лабораторные работы проводятся на базе сканирующего зондового микроскопа NanoEducator, разработанного специально для учебно-научных целей компанией «НТ-МДТ». В ходе подготовки к лабораторной работе каждый студент должен понять цель работы,
изучить содержание работы и основные физические закономерности используемых или исследуемых явлений. Результаты экспериментов представляются на проверку преподавателю.
Смотрите Часть 2 - Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А., Толочко Н.К., Федосюк В.М. Наноматериалы и Нанотехнологии

  • pdf
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
  • 14,57 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

  • djvu
М.: Мир, 1989. — 564 с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности. Для студентов и аспирантов физических, химических и...
  • 5,52 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Гинье А. Рентгенография кристаллов. Теория и практика

  • djvu
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С.С. Квитки, В.П. Тарасовой, под редакцией академика Н.В. Белова. — Москва: Наука, 1961. — 604 с. Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку...
  • 10,16 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

  • djvu
М.: Мир, 1984. — 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение,...
  • 7,42 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 3. Методы исследования структурно-фазового состояния материалов

  • pdf
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
  • 30,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 4. Физические основы прочности. Радиационная физика твердого тела. Компьютерное моделирование

  • pdf
Учебник для вузов: В 6 т. Том 4. — М.: МИФИ, 2008. — 696 с. Авторы: Е.Г. Григорьев, Ю.А. Перлович, Г.И. Соловьев, А.Л. Удовский, В.Л. Якушин. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре...
  • 10,93 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Наверх