Архипов А.В., Вакуленко А.Ф. и др. Экспериментальные методы исследований в физической электронике

Учебное пособие. — СПб.: Медиапапир, 2025. — 116 с.В пособии собраны сведения о пяти направлениях исследований в области физической электроники: исследовании рельефа и свойств поверхностей методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), постановке голографического эксперимента, моделировании ионно-оптических систем и изучении твердых тел с помощью дифракции медленных электронов. Помимо теоретических сведений в каждом разделе пособия представлены примеры оборудования и программного обеспечения, используемых для выполнения научной работы. В конце каждого раздела приведены методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Экспериментальные методы исследований», предназначенных для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям «Техническая физика», а также по другим направлениям, в учебных планах которых предусмотрено изучение твердых тел при помощи сканирующих методик, рентгеновских методов, масс-спектрометрического анализа, а также методов, использующих явление голографии. Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курсов «Экспериментальные методы исследования» и выполнении лабораторных работ студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.Введение.
Метод атомно-силовой микроскопии.
Метод сканирующей туннельной микроскопии.
Голографический эксперимент. Изучение свойств голографических изображений.
Моделирование ионно-оптической системы (ИОС).
Основные представления о методе ДМЭ.
Библиографический список.