Изаак Т.И. Методы исследования состава покрытий

Учебно-методический комплекс. — Томск: Томский государственный университет, 2011. — 107 с.Теоретические основы методов анализа, основанных на взаимодействии атомов и молекул с излучением.
ИК- и КР-спектроскопия, теоретические основы и практические аспекты применения.
Колебания двухатомной молекулы.
Простой гармонический осциллятор.
Ангармонический осциллятор.
Виды колебаний.
Устройство ИК-спектрометра.
Фурье-спектроскопия.
НПВО-спектроскопия.
Интерпретация ИК спектров.
Спектроскопия комбинационного рассеяния (КР).
Техника эксперимента.
Применения метода КР. Определение структуры молекулы по данным ИК-спектроскопии и спектроскопии КР.
Спектроскопия видимой и ультрафиолетовой области.
Электронная спектроскопия.
Электронная спектроскопия в химическом анализе.
Анализ твердых дисперсных веществ.
Спектроскопия диффузного отражения (СДО).
Практические аспекты использования СДО.
Другие аспекты применения.
Устройство спектрофотометра.
Использование рентгеновского излучения для анализа состава и структуры веществ.
Аппаратура, используемая в рентгеновских спектрометрах.
Рентгено-флуоресцентный анализ.
Основы метода.
Способы рентгено-флуоресцентного анализа.
Метод внешнего стандарта.
Метод внутреннего стандарта.
Преимущества методов рентгеноспектрального анализа.
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
Устройство спектрометра.
Требования к аппаратуре и образцам.
Приложение. Избранные презентации.
/file/4186416/ Колебательная спектроскопия.
/file/4186417/ Рентгеновское излучение: воздействие на вещество, генерация, детектирование.В приложении приведены также ссылки на другие лекционные презентации (*.pps) автора, размещенные на сайте Томского университета.