М.: МФТИ, 2011. — 152 с.
Пособие посвящено дифракционным методам анализа материалов: дается систематическое изложение теории взаимодействия рентгеновского излучения с трехмерными кристаллическими и поликристаллическими объектами, описана техника постановки дифракционного эксперимента, дается подробное изложения методов анализа (качественного и количественного) дифрактограмм.
Также внимание уделяется дифракции рентгеновских лучей на нанообъектах, малоугловому рентгеновскому рассеянию и рефлектометрии.
Отдельная глава пособия посвящена работе просвечивающего электронного микроскопа в режиме дифракции электронов.