Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Данильченко С.М., Кузнецов В.М., Проценко І.Ю. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів

  • Файл формата pdf
  • размером 2,32 МБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Данильченко С.М., Кузнецов В.М., Проценко І.Ю. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів
Навчальний посібник. — Суми: Сумський державний університет, 2019. — 135 с.
У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції.
Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних спеціальностей університетів, освітні програми яких пов’язані з вивченням властивостей матеріалів мікроелектроніки.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация