Химич М.А. Физические методы исследования материалов

Учебно-методическое пособие. — Томск: Томский государственный университет (ТГУ), 2023. — 128 с. — ISBN 978-5-907572-17-1.Учебно-методическое пособие посвящено описанию отдельных физических методов исследования материалов конструкционного и медицинского назначений. Целью автора было кратко перечислить и охарактеризовать наиболее распространенные физические методы исследования, которые могут быть использованы при решении практических научно-исследовательских и инженерно-технических задач, а также кратко изложить примеры реальных задач, которые наиболее часто встают перед исследователями на сегодняшний день. Представленный материал может быть использован как студентами, приобретающими первый опыт в проведении научно-исследовательской работы и решении инженерных и технологических задач, так и уже опытными учеными, инженерами, лаборантами и технологами, которые расширяют свои области знаний и навыков.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по программе «15.03.03 Прикладная механика» и смежным направлениям. Пособие может быть использовано студентами физико-технического, физического, химического, радиофизического факультетов по программам «Радиофизика», «Оптотехника», «Физика», «Химия», «Фундаментальная и прикладная химия» а также преподавателями при разработке курсов лекций и практических занятий.Оптическая микроскопия
Историческая справка
Устройство оптического микроскопа
Разрешающая способность микроскопа
Общее увеличение микроскопа
Виды объектов и методов исследования в оптической микроскопии
Оптическая металлография
Пробоподготовка в оптической металлографии
Количественная металлография
Основные типы структур металлов и сплавов
Основные методы металлографического исследования
Примеры реальных исследовательских задач
Растровая электронная микроскопия
Историческая справка
Устройство растрового микроскопа
Электростатическая и магнитная фокусировка
Дифракционный предел разрешения
Сферическая аберрация
Хроматическая аберрация
Астигматизм
Взаимодействие пучка электронов с исследуемой поверхностью
Основные источники сигналов, формирующие изображение в РЭМ
Формирование контраста в РЭМ
Количественный анализ в РЭМ
Примеры реальных исследовательских задач
Просвечивающая электронная микроскопия
Историческая справка
Основные узлы электронного микроскопа
Пробоподготовка
Просвечивающий растровый электронный микроскоп
Основные положения формирования электронно-микроскопических изображений
Методика дифракционного контраста
Микродифракция
Электронная микроскопия высокого разрешения
Области использования
Примеры реальных исследовательских задач
Атомно-силовая микроскопия
Историческая справка
Физические основы метода
Элементы конструкции атомно-силового микроскопа
Внешние воздействия и защита от них
Режимы работы АСМ
Примеры реальных исследовательских задач