Москва: Наука, 1979. — 241 с.
В книге обобщен опыт применения высоковольтной электронографии к исследованию кристаллических структур слоистых минералов. Излагаются общая методика расшифровки электронограмм монокристаллов и текстур, применимая и для триклинных структур; теория политипии, способы вывода, описания и дифракционной идентификации политипов; результаты полного определения кристаллических структур диоктаэдрических слоистых силикатов разного состава и строения; закономерные связи между особенностями кристаллических структур минералов и условиями их образования.
Книга предназначается для специалистов в областях электронографии и электронной микроскопии, кристаллографов и кристаллохимиков, минералогов и геологов, пользующихся результатами структурных исследований.
Предисловие.
Экспериментальные основы высоковольтной электронографии.
Расчётные основы электронографии.
Исследование политипии минералов.
Определение кристаллических структур слоистых силикатов.
Типоморфное значение особенностей кристаллических структур минералов.
Авторы: Врублевская З.В., Жухлистов А.П., Звягин Б.Б., Сидоренко О.В., Соболева С.В., Федотов А.Ф.