Глокер Р. Рентгеновские лучи и испытание материалов

Ленинград; Москва: Государственное технико-теоретическое издание, 1932. — 397 с.Перевод с немецкого С.И.Френкель, про ред. проф. Н.Я.Селякова, и проф. Я.И. Френкель.Введение.
Природа рентгеновских лучей и различные способы испытания материалов рентгеновскими лучами.Получение рентгеновских лучей.
Технические рентгеновские трубки.
Специальные трубки для испытания материалов.
Рентгеновские установки.
Защитные приспособления против лучей.Свойства рентгеновских лучей.
Поглощение и вторичное излучение.
Дифракция (отражение от кристаллов).
Ионизация и фотографическое действие.Испытание материалов методом поглощения.
Общие основы метода поглощения.
Применение метода поглощения на практике.Спектральный анализ.
Рентгеноскопические аппараты.
Закономерности рентгеновского спектра (Спектр испускания. Спектр поглощения).
Качественный рентгеновский спектральный анализ (Обнаружение свинца в латуни. Обнаружение марганца в специальной стали. Обнаружение железа в платиновом контакте. Анализ смеси редких земель).
Количественный рентгеновский спектральный анализ (Таблица совпадения линий. Анализ спектров испускания (эмиссионный). Анализ спектров поглощения. Определение бария в образце стекла. Определение содержания сурьмы в одном из силикатов. Анализ смеси солей. Определение содержания висмута в сплаве).Методы интерференции.
Обзор исследования структур рентгеновскими методами и области их применения.
Кристаллографические основы (Свойства и классификации кристаллов. Внутреннее строение кристаллов. Законы симметрии. Пространственные группы и трансляционные группы).
Метод Дебая (Общие замечания. Дебаевская аппаратура для специальных целей).
Расшифровка дебаевских рентгенограмм (Технические применения. Определение угла отражения. Вычисление положения и интенсивности дебаевских колец по данным структурной таблицы. Индицирование дебаевских линий. Определение кристаллической структуры по дебаевской рентгенограмме).
Метод Лауэ (Получение рентгенограммы Лауэ. Определение симметрии кристалла по рентгенограмме Лауэ. Индицирование лауэвских диаграмм. Определение длины волны отражённых лучей).
Метод вращаемого кристалла и спектрометрический метод (Получение рентгенограмм вращения. Расчёт рентгенограмм вращения. Технические применения рентгенограмм вращения. Применение метода вращаемого кристалла к определению структуры. Спектрометрический метод).
Определение пространственной группы и положения атомов (Обзор хода исследования при определении структуры. Пример определения пространственной группы и расположения атомов).
Описание кристаллической структуры органических и неорганических веществ и основы кристаллохимии (Описание кристаллических структур. Структура элементов и неорганических соединений. Основы кристаллохимии).
Строение сплавов (Различные виды сплавов с металлографической и рентгенографической точек зрения. Описание структуры отдельных сплавов. Таблица строения сплавов).
Определение величины кристалликов (Определение величины субмикроскопических кристалликов. Определение величины кристалликов в пределах от 10 до 100).
Текстур-диаграмма (Получение текстур-диаграммы. Расшифровка «полных» текстур-диаграмм. Расшифровка текстур-диаграмм в случае ограниченной текстуры).
Техническое применение текстур-диаграмм (Структура роста. Структура деформации. Структура рекристаллизации. Изучение статистической анизотропии поликристаллических тел методом полюсных фигур (Е.Жданов). Структура стали в различных её проявлениях (Н. Селяков). Внутренние напряжения (Н. Селяков). Электронографический анализ (В. Лашкарев). Химический анализ в рентгеновских лучах (А. Фрост). Пример расчёта «кривых вращения» (А. Трапезников). Геометрия кристаллов (Н.Н. Падуров). Соответствие обозначений Ниггли обозначениям Фёдоровского института (А. Болдырев). Постановление НКТ СССР об охране труда работников в рентгеновских кабинетах).Математическое приложение.
Примеры вычисления на поглощение.
Кристаллографические формулы (Кристаллографические системы осей и соответствующие элементы решётки. Связь между гексагональной и ромбоэдрической решётками. Преобразование осей и индексов. Расстояние между плоскостями и квадратичная форма. Угол между двумя гранями кристалла. Угол между двумя прямыми и в частности между рёбрами кристалла. Расстояние между соседними точками по выбранному направлению трансляционных решёток. Закон зон. Структурный множитель. Гексагональная наиболее плотная шаровая упаковка. Условие ромбоэдра).