Джеймс Р. Оптические принципы диффракции рентгеновских лучей

Москва: Издательство иностранной литературы, 1950. — 572 с.Книга Р. Джеймса представляет собой фундаментальную монографию, посвященную вопросам диффракции рентгеновских лучей. В ней систематически изложены теоретические основы методов исследования кристаллических и аморфных твердых тел, жидкостей и газов с помощью рентгеновских лучей. Теоретические результаты всюду сопоставляются с многочисленными опытными данными.
Книга является вторым томом из серии «Кристаллическое состояние», выходящей в Англии под редакцией Брэгга.
В книге излагается геометрическая теория диффракции рентгеновских лучей. В главах, посвященных интенсивности рассеяния, подробно рассматриваются как теоретические, так и экспериментальные работы в этой области, а именно: вычисление и экспериментальное определение функции атомного рассеяния (которую часто называют неудачным термином — атомный фактор); приведены расчеты интенсивности рассеяния как для мозаичного, так и для идеального кристаллов. Здесь же дается обзор экспериментальных работ по проверке полученных формул. Большое место уделено тепловому рассеянию. Подробно излагается рассеяние на кристаллических порошках. Даются общие представления о рассеянии в жидкостях, газах и на волокнистых структурах.
Не все разделы книги написаны равноценным образом. Как и следовало ожидать, наиболее удачно изложены те вопросы, в изучении которых принимал участие сам автор. Так, хорошо и подробно изложены вопросы, связанные с интенсивностью отражения рентгеновских лучей от кристаллов (гл. II) и с функцией атомного рассеяния (гл. III). Большой интерес представляет также гл. V, в которой рассматривается влияние температуры кристалла на картину диффракции рентгеновских лучей, а также гл. VI, посвященная изложению методов экспериментальной проверки формул для интенсивности.
Однако, наряду с этим, встречаются разделы, изложение которых не может удовлетворить советского читателя. Например, не совсем удачной следует признать гл. VII, посвященную прямым методам структурного анализа. В этой главе автор дает лишь вывод хорошо известных формул рядов электронной плотности, но не рассматривает наиболее сейчас важный для кристаллохимии вопрос о точности определения координат атома по рентгенограмме. Укажем, кроме того, что автором недостаточно точно освещен практически важный вопрос о диффракции на дефектных структурах.
Книга рассчитана на широкий круг научных работников рентгенологов, а также аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов, специализирующихся в области рентгеновского анализа.