Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э.
— В 2-х книгах. — Пер. с англ. Р.С. Гвоздовер и Л.Ф. Комоловой, под ред. канд. физ.-мат. наук В.И. Петрова. — М.: Мир, 1984. — 303 с.: ил.
В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.