Курс лекций. — М.: МИСиС, 1977. — 128 с.
Описаны некоторые специальные методы анализа концентрационной, структурной и фазовой неоднородности, которые излагаются студентам специальности 04.06 в рамках спецкурса.
Введение.
Методы рентгеновской топографии.Методы наблюдения дислокаций и почти совершенных кристаллов.
Методы исследования субструктуры кристаллов.
Рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами.Основы теории малоуглового рассеяния.
Двойное вульф-брэгговское рассеяние металлов и сплавов в малоугловой области.
Техника получения и методы расчета малоугловых рентгенограмм.
Методы дифракционной электронной микроскопии.Определение ориентационного соотношения кристаллов.
Электроннооптический анализ дислокационной структуры границ зерен.
Литература.Авторы: Варли К.В., Еднерал Н.В., Скаков Ю.А., Спектор Э.Н., Чириков Н.В., Эпштейн Г.Н.