Блесман А.И., Несов С.Н., Корусенко П.М. Аналитическое обеспечение научных исследований наноструктурированных материалов

Учебное пособие. — Омск: ОмГТУ, 2020. — 128 с.: ил.Рассмотрены методы исследования наноматериалов: растровая электронная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, рентгеновская дифрактометрия, оже-электронная спектроскопия; аналитические методы, реализованные с применением синхротронного излучения: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и рентгеновская абсорбционная спектроскопия. Изложены принципы работы исследовательского оборудования.
Издание предназначено для обучающихся по направлениям 28.03.02 «Наноинженерия», 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов».Введение.
Наноструктуры, классификация наноматериалов и современные методы их исследования.
Факторный эксперимент.
Растровая электронная микроскопия. Основные этапы организации работы на микроскопе JEOL JCM.
Проведение исследований на РЭМ JEOL JCM 5700 в режимах «Простое наблюдение» и «Наблюдение вручную».
Атомно-силовая микроскопия. Особенности работы на сканирующем зондовом микроскопе NTEGRA.
Этапы подготовки оборудования для работы в режиме «Сканирование образцом».
Контактная атомно-силовая микроскопия. Реализация методики на микроскопе ntegra.
Рентгеновская дифрактометрия. Устройство и принцип работы комплекса SHIMADZU XRD.
Физические основы метода оже-электронной спектроскопии. Аналитическое оборудование.
Синхротронное излучение и его источники.
Аналитические методы исследования наноматериалов, основанные.
На применении синхротронного излучения: основы теории спектроскопии рентгеновского поглощения (NEXAFS).
Аналитические методы исследования наноматериалов, основанные на применении синхротронного излучения. Физические основы метода РФЭС (XPS).
Измерение РФЭС- и NEXAFS-спектров на станции RGL-PES в центре синхротронного излучения BESSY II.
Заключение.
Библиографический список.