Блесман А.И., Даньшина В.В., Полонянкин Д.А. Теоретические основы методов исследования наноматериалов

Учебное пособие. — Омск: ОмГТУ, 2017. — 78 с.Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики.
Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».