М.; Л.: Гостехиздат, 1940. — 446 с.
Предисловие.
Перечень важнейших обозначений.
Введение.
Кристаллографические основы структурного анализа.Основные понятия и формулы геометрической кристаллографии. Способы изображения кристаллов.
Учение о симметрии кристаллов.
Теория интерференции рентгеновских лучей, рассеиваемых материальными телами.Геометрия интерференции рентгеновских лучей в кристаллах.
Методы рентгеновского структурного анализа.Деление методов рентгеноанализа и принципы конструкции рентгеновских камер.
Методы исследования монокристаллов.
Метод исследования поликристаллов.
Теория интерференции рентгеновских лучей в кристалле.Формулы интенсивности для мозаичного и идеального кристаллов.
Факторы интенсивности.
Практические формулы интенсивности для различных методов структурного анализа. Факторы абсорбции, повторяемости и пр.
Применения рентгеновского структурного анализа.Исследование монокристаллов.
Исследование поликристаллов.
Добавления.