Кацнельсон А.А. (ред.). Рентгенография. Спецпрактикум

Москва: Изд-во Московского университета, 1986. — 240 с.В пособии представлены как классические методы рентгенографии (определение структуры и ориентировки кристаллов с помощью неподвижного , вращающегося и колеблющегося монокристалла, периодов элементарной ячейки и фазового состава по рентгенограммам поликристаллов), так и новые методики, позволяющие изучать структуру реальных кристаллов (размеры блоков и величину микронапряжений, мозаичную структуру, ближний порядок, характеристики тепловых колебаний атомов). Рассматривается взаимодействие рентгеновских лучей с кристаллами с помощью интерференционного прохождения рентгеновских лучей. Ряд задач посвящен нетрадиционным применениям классических методов: изучению дифракции на биополимерах, определению пространственных групп кубических кристаллов по рентгенограммам поликристаллов.
Для студентов и аспирантов физических факультетов университетов и вузов.Элементы кристаллографии
Основы теории рассеяния рентгеновских лучей
Теория интенсивности дифракционных максимумов
Аппаратура и методика рентгеноструктурных исследований
Определение размеров и типа элементарной ячейки кристаллической решетки на поликристаллическом образце
Рентгеновский качественный фазовый анализ
Определение ориентировки кубических монокристаллов
Исследование кристаллов методом вращения и колебания
Определение пространственных групп симметрии кубических кристаллов по рентгенограммам поликристаллов
Прецизионное определение параметров элементарной ячейки на поликристаллах
Рентгеновская дифракция на биополимерах
Определение характеристической температуры
Дифракционное уширение линий
Ближний порядок в твердых растворах металлов
Рентгеновская топография в расходящемся пучке
Явление БорманаАвторы: Авдюхина В.М., Батсурь Д., Зубенко В.В., Кацнельсон А.А., Квитка С.С., Колесова Н.С., Новакова А.А., Ревкевич Г.П., Сангаа Д., Телегина И.В., Уманский М.М.