Никитенков Н.Н. Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики

Учебное пособие. — Томск: Томский политехнический университет, 2012. — 203 с.Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений).
Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества».Предисловие.
Введение. История и актуальность науки о поверхности и методов ее исследования.
Строение поверхности.
Экспериментальные особенности диагностики поверхности.
Явления, лежащие в основе методов исследования поверхности.
Теоретические основы методов ионной спектроскопии поверхности.
Теоретические основы методов электронной спектроскопии поверхности.
Теоретические основы методов структурного анализа поверхности.
Задачи.
Часто использованные обозначения и аббревиатуры.