Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Горбунов В.А., Селезнева Н.В., Губкин А.Ф. Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов

  • Файл формата rar
  • размером 2,69 МБ
  • содержит документ формата pdf
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Горбунов В.А., Селезнева Н.В., Губкин А.Ф. Рентгеновские и нейтронные методы исследования наноматериалов
Екатеринбург, УГУ им. А. М. Горького, 2007. Учебно-методический комплекс.
Рассмотрены вопросы дифракции рентгеновских лучей и нейтронов на нанокристаллах. Описаны методы определения размеров кристаллитов (Фурье-синтез, малоугловое рассеяние), определение толщины и числа слоев в сверхрешетках (рентгеновская рефлектометрия), малоугловое рассеяние нейтронов наноматериалами. УМКД включает программу дисциплины, курс лекций, методические указания, экзаменационные материалы. Предназначен для магистров физического и химического факультетов УрГУ.
Учебно-методический комплекс состоит из 5 файлов:
Экзаменационные билеты
Методические указания
Вопросы для самоконтроля
Учебно-методическое пособие
Программа дисциплины
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Азаренков Н.А., Береснев В.М., Погребняк А.Д. Наноматериалы, Нанопокрытия, Нанотехнологии

  • pdf
Учебное пособие. - Харьков: ХНУ им. В. Н. Каразина, 2009. - 209 с. - Для студентов, аспирантов и научных работников. В учебном пособии приведена классификация наноразмерных структур, проанализированы их свойства. Обобщены сведения о проявлении размерных эффектов в физических, механических, термических и других свойствах наноструктурных материалов. Рассмотрены основные методы...
  • 7,96 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А., Толочко Н.К., Федосюк В.М. Наноматериалы и Нанотехнологии

  • pdf
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
  • 14,57 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

  • djvu
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
  • 4,41 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Дзидзигури Э.Л., Сидорова Е.Н. Ультрадисперсные среды: методы рентгеновской дифрактометрии для исследования наноматериалов

  • djvu
М.: МИСиС, 2007. - 60 с. Рассмотрены методы исследования нанодисперсных материалов с помощью рентгеновской дифрактометрии. В ходе изложения теоретических основ каждого из методов отмечены особенности рентгенограмм, которые встречаются при изучении наносред. Описанные аномалии проиллюстрированы экспериментальными данными. Учебное пособие написано в соответствии с учебным планом...
  • 1,16 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Троян В.И. и др. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

  • djvu
Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов...
  • 7,58 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

  • djvu
М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...
  • 8,56 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх