Свергун Д.И., Фейгин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние
Файл формата
djvu
размером 2,45 МБ
Добавлен пользователем B_IGOR_0, дата добавления неизвестна
Описание отредактировано
М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с. Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных объектов в твердой фазе и в растворах по интенсивности малоуглового рассеяния. Общие положения иллюстрируются примерами конкретных структурных исследований биологических объектов, синтетических и природных полимеров, неорганических материалов. Описаны важнейшие типы малоугловых рентгеновских и нейтронных днфрактометров и обобщены методы обработки на ЭВМ данных дифракционного эксперимента. Рассчитана на широкий круг исследователей — научных работников и инженеров — работающих в области физики твердого тела, органической и неорганической химии, материаловедения, молекулярной биологии и биофизики.
Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С.С. Квитки, В.П. Тарасовой, под редакцией академика Н.В. Белова. — Москва: Наука, 1961. — 604 с.
Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку...
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
Учебник для вузов. В 6 т. Том 1. — М.: МИФИ, 2007. — 636 с. Авторы: Елманов Г. Н., Залужный А. Г., Скрытный В. И., Смирнов Е. А., Яльцев В. Н. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
Учебник для вузов: В 6 т. — М.: МИФИ, 2008. — 672 с. Авторы: М.И. Алымов, Г.Н., Елманов, Б.А. Калин, А.Н. Калашников, В.В. Нечаев, А.А. Полянский, И.И. Чернов, Я.И. Штромбах, А.В. Шульга. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8...
М.; Л.: Государственное издательство технико-теоретической литературы, 1950. — 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.
М.: ГИТТЛ, 1952. – 588 с. Книга является продолжением книги А.И. Китайгородского «Рентгеноструктурный анализ» (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа к исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, инженеров, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами,...