Добавлен пользователем B_IGOR_0, дата добавления неизвестна
Описание отредактировано
М: Изд-во АН СССР, 1956. — 342 с. Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтронографическое) изучение которых затруднительно или вообще невозможно.
Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
Москва: Техносфера, 2009. - 528 с., ISBN: 978-5-94836-220-5 Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и...
М.: Издательство Московского университета, 1964. — 492 с. Рентгеноструктурный анализ принадлежит к числу физических методов исследования, наиболее прочно вошедших в химию и минералогию. Одна из основных задач структурного исследования — определение атомного строения кристаллов — представляет, несомненно, гораздо больший интерес для химиков и геохимиков, чем для физиков. Между...
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С.С. Квитки, В.П. Тарасовой, под редакцией академика Н.В. Белова. — Москва: Наука, 1961. — 604 с.
Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку...
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...