Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

  • Файл формата djv
  • размером 9,16 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2
М.: Мир, 1984. — 349 с.
Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д.
Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ

  • djvu
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
  • 16,62 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • pdf
М: Мир, 1978. — 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более...
  • 36,50 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

  • djvu
М.: Мир, 1984. — 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение,...
  • 7,42 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

  • pdf
Москва: Техносфера, 2008. - 232 с В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы рентгеновских спектрометров с...
  • 64,55 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая Просвечивающая Электронная Микроскопия

  • djvu
Монография. — Пер. с англ. C.А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции совре­менных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго­дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроско­пии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изобра­жений, в том числе на основе...
  • 6,32 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

  • djvu
М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...
  • 8,56 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх