Клопотов А.А., Абзаев Ю.А., Потекаев А.И. и др. Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов

Томск: Томский политехнический университет, 2013. — 263 с. — ISBN: 978-5-4387-0197-2.В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии.
Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.
Предназначена для студентов, магистрантов, аспирантов и специалистов, занятых в этой области, а также будет полезно практикам, не имеющим специального образования.Предисловие.
Введение.
Кинематическая теория рассеяния рентгеновского излучения.
Некоторые основы геометрической кристаллографии.
Индицирование порошковых дифрактограмм.
Прецизионное определение параметров элементарной ячейки.
Качественный и количественный фазовый анализ.
Полнопрофильный анализ дифрактограмм.
Примеры расчетов при помощи полнопрофильного анализа методом Ритвельда.
Заключение.
Итоговое заключение.
Библиографический список.