Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • Файл формата pdf
  • размером 36,50 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия
М: Мир, 1978. — 656 с.
В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков, биологов, физиков. Она может служить справочным руководством для специалистов по электронной микроскопии.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ

  • djvu
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
  • 16,62 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

  • djvu
М.: Мир, 1984. — 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение,...
  • 7,42 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

  • djvu
М.: Мир, 1984. — 349 с. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических...
  • 9,16 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 3. Методы исследования структурно-фазового состояния материалов

  • pdf
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
  • 30,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

  • djvu
М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...
  • 8,56 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии

  • djvu
М.: Мир, 1972. — 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава,...
  • 7,31 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх