Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Кузько А.Е., Кузько А.В. Основы применения масс-спектрометрических методов в нанодиагностике

  • Файл формата pdf
  • размером 964,90 КБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Кузько А.Е., Кузько А.В. Основы применения масс-спектрометрических методов в нанодиагностике
Курск: Юго-Зап. гос. ун-т, 2013. — 78 с. — ISBN 978-5-905556-81-4.
Предназначено для студентов специальностей 210600.62 «нанотехнология», 222900.62 «нанотехнологии и микросистемная техника» при изучении дисциплин: "Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов" и "Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем".
Приводится описание устройства и физического принципа действия основных типов масс-спектрометров, их характеристик. Изложены теоретические сведения по расшифровке масс-спектров и методам применения масс-спектрометров для определения свойств веществ. Показана роль масс-спектрометров в получении и диагностике кластерных частиц.
Общие характеристики методов.
Классификация физических методов. Прямая и обратная задачи. Требование корректности поставленных задач.
Общие характеристики спектроскопических и дифракционных методов. Характеристическое время метода
.
Общая характеристика массспектрометрических методов.
Масс-спектрометры и их характеристики.
Применение масс-спекрометрии.
Применение масс-спекрометрии в получении и диагностике наночастиц.
Рекомендуемая литература.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация