Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Иванов А.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3

  • Файл формата pdf
  • размером 488,22 КБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Иванов А.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3
М.: НИТУ "МИСиС", 2009. — 22 с.
Конспект лекция для потока ФХ–2,3.
Анализ текстуры
Рентгенографический анализ преимущественных ориентировок (текстур)
Классификация текстур.
Представление (описание) тексту при помощи прямых полюсных фигур
Изменения на рентгенограмме при наличии текстуры в образце
Анализ аксиальной текстуры
Анализ аксиальной текстуры с помощью дифрактометра
Анализ ограниченной текстуры с помощью ППФ, построенных дифрактометрическим методом
Построение и анализ обратных полюсных фигур
Описание текстуры с помощью функции распределения ориентировок
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация