Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Уайтхауз Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы

  • Файл формата djvu
  • размером 6,42 МБ
  • Добавлен пользователем
  • Отредактирован
Уайтхауз Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы
Научное издание. - Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2009. — 472 с. ISBN 978-5-91559-023-5 Скан. 600 dpi.
Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов).
Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.
Оглавление
Предисловие редактора перевода
Предисловие автора
Введение
Идентификация и выделение характеристик поверхности
Профильные и пространственные параметры шероховатости
Шероховатость поверхности и технология обработки
Эксплуатационные характеристики шероховатых поверхностей
Общие вопросы оценки качества поверхности
Щуповые приборы
Оптические методы
Сканирующая микроскопия
Простые погрешности формы
Некруглость и ее следствия
Нецилиндричность и несферичность
Конструкция измерительных приборов и минимизация погрешностей измерений
Калибровка приборов
Регистрация данных, численные методы анализа и представление результатов
Литература
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация