Нефедов В.И., Черепин В.Т. Физические методы исследования поверхности твердых тел

Монография. — М.: Наука, 1983 — 295 с.В монографии изложены физические основы двух важнейших методов исследования поверхности твердых тел — рентгеноэлектронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Рассмотрены области применения методов: изучение электронных поверхностных состояний, окисление металлов, сплавов, полупроводников, исследование коррозии, адсорбции, катализаторов, адгезии, флотации и других характеристик и процессов, протекающих на поверхности.
Для специалистов в области рентгеноэлектронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов, а также для ученых и производственников, занимающихся исследованием поверхности.