М.: Наука, 1966. — 80 с.
Эта книга предназначена, в первую очередь, для специалистов по вычислительным методам в рентгеноструктурном анализе. Она также может быть полезной для математиков, занимающихся задачами отыскания экстремумов функций многих переменных и другими задачами оптимизации. Книга является результатом работы, проводившейся в последние годы по определению молекулярных структур органических кристаллов по рентгеновским дифракционным данным.
Для решения этих задач оказался эффективным метод нелокального поиска экстремума функции многих переменных - метод оврагов, предложенный в 1959 году И.М. Гельфандом.
Изложенные здесь методы расчетов могут быть распространены как на структуры с большим числом степеней свободы, так и на структуры других типов.
СодержаниеОт авторов
Общее описание метода
Задача рентгеноструктурного анализа. Построение функций R и D
Метод оврагов
Краткое описание программ, обеспечивающих поиск
Вычисление функции допустимости D
Определение конкретных структур
Исследование функции R оксипролина
Определение структуры L-пролина
Определение структуры 4,4'-динитробифенила
Определение структуры 1,8-динитронафталина
Определение структуры бензофенона
Определение структуры p,p'-диметил-а,а'-дифторстиильбена
Литература