М.: ГИТТЛ, 1952. – 588 с.
Книга является продолжением книги А.И. Китайгородского
«Рентгеноструктурный анализ» (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа к исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ.
Книга рассчитана на широкий круг научных работников, инженеров, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также со сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кислотами, ископаемыми углями и другими веществами. Книга предназначена также для аспирантов и студентов старших курсов вузов и втузов соответствующих специальностей.
Принятые обозначения.
Предисловие.
Рентгеновская диффракция аморфными, квазикристаллическими и поликристаллическими телами.Введение.
Рассеяние изотропными системами.
Системы из цепей или слоев.
«Монокристаллы» с ошибками в наложении слоев.
Сплавы как пример структур с отклонениями от трехмерного порядка.
Величина кристаллитов и ширина диффракционной линии.
Определение размера и формы частиц по картине рассеяния под малыми углами.
Влияние деформации и напряжений в образце на рентгеновское рассеяние.
Исследования текстуры.
Некоторые результаты применения рентгеноструктурного анализа.Высокополимерные углеводороды и их производные.
Протеины.
Целлулоза.
Рентгеноструктурный анализ тканей животных.
Жиры и мыла.
Ископаемые угли.
Некоторые применения рентгенографии в области изучения неорганических соединений.
Перечень применений рентгеноструктурного анализа в металловедении.
Методы исследования поликристаллических веществ.
Таблицы межплоскостных расстояний и относительных интенсивностей линий рентгенограмм некоторых поликристаллических веществ.Указатель таблиц.Алфавитный указатель.